Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects Hu, Chao-Kun Sukharev, Valeriy Ho, Paul S. Gall, Martin 9781107032385 Innbundet 12.05.2022 Engelsk I salg
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 Frost, Harold J. Filter, William F. Ho, Paul S. Rodbell, Kenneth P. 9781107409484 MRS Proceedings Heftet 05.06.2014 Engelsk Produseres på bestilling
Advanced Interconnects for ULSI Technology Zschech, Ehrenfried Ho, Paul S. Baklanov, Mikhail 9780470662540 Innbundet 02.03.2012 Engelsk I salg
