Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects Hu, Chao-Kun Sukharev, Valeriy Ho, Paul S. Gall, Martin 9781107032385 Innbundet 12.05.2022 Engelsk Produseres på bestilling
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 Frost, Harold J. Filter, William F. Ho, Paul S. Rodbell, Kenneth P. 9781107409484 MRS Proceedings Heftet 05.06.2014 Engelsk Midlertidig utsolgt
Advanced Interconnects for ULSI Technology Baklanov, Mikhail Ho, Paul S. Zschech, Ehrenfried 9780470662540 Innbundet 09.04.2012 Engelsk I salg
