Hopp til hovedinnhold

Oppdatert 30.1. Klikk her for info om bokleveranser, faktura og nettbutikk

Omslagsbilde

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Frost, Harold J. Filter, William F. Ho, Paul S. Rodbell, Kenneth P.

MRS Proceedings

|

Heftet

Produseres på bestilling

Leveringstid: 2-4 uker

Handlinger

Beskrivelse

Omtale

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Detaljer