Hopp til hovedinnhold

Oppdatert 30.1. Klikk her for info om bokleveranser, faktura og nettbutikk

Bøker

Harold J. Frost

Forsidebilde av Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Frost, Harold J. Filter, William F. Ho, Paul S. Rodbell, Kenneth P.

9781107409484 MRS Proceedings Heftet

05.06.2014

Engelsk

Produseres på bestilling

Viser 1