Hopp til hovedinnhold

Omslagsbilde

Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265

Thompson, C. V. Lloyd, J. R.

MRS Proceedings

|

Heftet

Produseres på bestilling

Leveringstid: 14-30 virkedager

Omtale

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Utgivelsesdato:

05.06.2014
ISBN:

9781107409682
Språk:

, Engelsk
Forlag:
Cambridge University Press
Fagtema:

, Teknologi, ingeniørfag, landbruk og industri
Serie:

MRS Proceedings
Litteraturtype:

Faglitteratur
Sider:

344
Høyde:

22.9 cm
Bredde:

15.2 cm