Hopp til hovedinnhold

Oppdatert 4. februar: Klikk her for info om bokleveranser, faktura og nettbutikk

Omslagsbilde

Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics — 2004

Hau-Riege, C. S. Lu, T. -M. Schulz, S. E. Carter, R. J. Kloster, G. m.

MRS Proceedings

|

Heftet

Produseres på bestilling

Leveringstid: 2-4 uker

Handlinger

Beskrivelse

Omtale

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Detaljer