Hopp til hovedinnhold
Omslagsbilde

Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics: Volume 612

Oehrlein, G. S. Joo, Y. -C. Ogawa, S. Maex, K. Wetzel, J. T.

MRS Proceedings

|

Heftet

Produseres på bestilling

Leveringstid: 14-30 virkedager

Handlinger

Beskrivelse

Omtale

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Detaljer