Hopp til hovedinnhold

Oppdatert 4. februar: Klikk her for info om bokleveranser, faktura og nettbutikk

Bøker

Martin Gall

Forsidebilde av Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects

Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects

Hu, Chao-Kun Sukharev, Valeriy Ho, Paul S. Gall, Martin

9781107032385 Innbundet

12.05.2022

Engelsk

I salg

Forsidebilde av Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156

Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156

Grill, Alfred Usui, Takamasa Gall, Martin Koike, Junichi Lacopi, Francesca

9781107408319 MRS Proceedings Heftet

05.06.2014

Engelsk

Produseres på bestilling

Viser 1-2